Тестер LCR-T4 + в корпусе

Перечень основных возможностей устройства: ∙ Измерение сопротивлений в широком диапазоне; ∙ Измерение ёмкостей конденсаторов в широком диапазоне; ∙ Определение эквивалентного последовательного сопротивления конденсаторов (ESR); ∙ Измерение индуктивностей в широком диапазоне; ∙ Определение основных параметров диодов (прямое падение напряжения, проходная ёмкость); ∙ Определение основных параметров транзисторов любых типов; ∙ Определение цоколевки тиристоров и триаков (симисторов); ∙ Определение назначения выводов всех поддерживаемых полупроводниковых компонентов с числом выводов 2 или 3. Тестируемые элементы: ∙ Резисторы; ∙ Полярные и неполярные конденсаторы; ∙ Катушки индуктивности; ∙ N-P-N и P-N-P биполярные транзисторы; ∙ MOSFET транзисторы P- и N-канальные; ∙ JFET транзисторы; ∙ Диоды; ∙ Двойные диоды; ∙ Тиристоры; ∙ Симисторы.